IEEE 1149.1-1993 测试存取口及边界扫描结构
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时间:2024-05-13 10:20:36
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【英文标准名称】:Testaccessportandboundary-scanarchitecture
【原文标准名称】:测试存取口及边界扫描结构
【标准号】:IEEE1149.1-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:印制电路;电子工程;电子设备及元件;开关电路;计算机硬件;试验;数据处理
【英文主题词】:electronicengineering;printedcircuits;computerhardware;electronicequipmentandcomponents;dataprocessing;testing;switchingcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_180;35_200
【页数】:172P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:测试存取口及边界扫描结构
【标准号】:IEEE1149.1-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:印制电路;电子工程;电子设备及元件;开关电路;计算机硬件;试验;数据处理
【英文主题词】:electronicengineering;printedcircuits;computerhardware;electronicequipmentandcomponents;dataprocessing;testing;switchingcircuits
【摘要】:
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_180;35_200
【页数】:172P;A4
【正文语种】:英语
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